Research

Hauptarbeitsgebiete: Strukturelle Störungen (Ordnungs-Unordnungs-Zustände) von Oberflächen, Grenzflächen und dünnen Schichten; Aufklärung von mikroskopischen Mechanismen des Kristallwachstums und der Auswirkungen auf die physikalischen (z. B. optischen) Eigenschaften; Aufklärung von Phänomenen der Epitaxie und Diffusion auf Halbleiteroberflächen (Fragen der Oberflächenrauhigkeit, Stufenstrukturen); Anwendungen von elektronischen Materialien, Vielfach-Schicht-Systemen und Röntgenstrahl-Optiken; Grundlagenuntersuchungen zur Dünnschicht-Technologie